二．脈沖群發(fā)生器試驗(yàn)綜述實(shí)驗(yàn)設(shè)備

1. 電快速脈沖發(fā)生器其中儲(chǔ)能電容的大小決定單個(gè)脈沖的能量；波形形成電阻和儲(chǔ)能電容配合，決定了波形的形狀；阻抗匹配電阻決定了脈沖發(fā)生器的輸出阻抗(標(biāo)準(zhǔn)為50歐姆)；隔直電容則隔離了脈沖發(fā)生器中的直流成分。

2.耦合/去耦網(wǎng)絡(luò) 交/直流電源端口的耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)(CDN---Couple and Decouple networks)，這個(gè)網(wǎng)絡(luò)提供了在不對(duì)稱條件下把試驗(yàn)電壓施加到受試設(shè)備的電源端口的能力。這里所謂不對(duì)稱干擾是指電源線與大地之間的干擾?？梢钥吹綇脑囼?yàn)發(fā)生器來(lái)的信號(hào)電纜芯線通過(guò)可供選擇的耦合電容加到相應(yīng)的電源線(L1、L2、L3、N及PE)上，信號(hào)電纜的屏蔽層則和耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)的機(jī)殼相連，機(jī)殼則接到參考接地端子上。耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)的作用是將干擾信號(hào)耦合到EUT并阻止干擾信號(hào)干擾連接在同一電網(wǎng)中的不相干設(shè)備。一些電快速脈沖發(fā)生器已將耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)集成于一體。

3.電容耦合夾關(guān)于電容耦合夾的應(yīng)用，在GB/T17626.4的第6.3節(jié)中指出，耦合夾能在受試設(shè)備各端口的端子、電纜屏蔽層或受試設(shè)備的任何其他部分無(wú)任何電連接的情況下把快速瞬變脈沖群耦合到受試線路上。受試線路的電纜放在耦合夾的上下兩塊耦合板之間，耦合夾本身應(yīng)盡可能地合攏，以提供電纜和耦合夾之間的*大耦合電容。耦合夾的兩端各有一個(gè)高壓同軸接頭，用其*靠近受試設(shè)備的這一端與發(fā)生器通過(guò)同軸電纜連接。高壓同軸接頭的芯線與下層耦合板相連，同軸接頭的外殼與耦合夾的底板相通，而耦合夾放在參考接地板上。

三.脈沖群發(fā)生器試驗(yàn)綜述實(shí)驗(yàn)設(shè)置

下面是在實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行電快速脈沖群抗擾度試驗(yàn)時(shí)所必須的配置：

1.參考接地板用厚度為0.25mm以上的銅板或鋁板(需提醒的是，普通鋁板容易氧化，易造成試驗(yàn)儀器、受試設(shè)備的接地電纜與參考接地板之間塔接**，宜慎用)；若用其他金屬板材，要求厚度大于0.65mm。參考接地板的尺寸取決于試驗(yàn)儀器和受試設(shè)備，以及試驗(yàn)儀器與受試設(shè)備之間所規(guī)定的接線距離(1m)。參考接地板的各邊至少應(yīng)比上述組合超出0.1m。 參考接地板應(yīng)與實(shí)驗(yàn)室的保護(hù)地相連。 

2.試驗(yàn)儀器(包括脈沖群發(fā)生器和耦合/去耦網(wǎng)絡(luò))放置在參考接地板上。試驗(yàn)儀器用盡可能粗短的接地電纜與參考接地板連接，并要求在搭接處所產(chǎn)生的阻抗盡可能小。

3.受試設(shè)備用0.1±0.01m的絕緣支座隔開(kāi)后放在參考接地板上(如果受試設(shè)備是臺(tái)式設(shè)備，則應(yīng)放置在離參考接地板高度為0.8±0.08m的木頭桌子上)。受試設(shè)備(或試驗(yàn)桌子)距參考接地板邊緣的*小尺寸滿足項(xiàng)1(0.1m)的規(guī)定。受試設(shè)備應(yīng)按照設(shè)備的安裝規(guī)范進(jìn)行布置和連接，以滿足它的功能要求。另外，受試設(shè)備應(yīng)按照制造商的安裝規(guī)范，將接地電纜以盡量小的接地阻抗連接到參考接地板上(注意，不允許有額外的接地情況出現(xiàn))。當(dāng)受試設(shè)備只有兩根電源進(jìn)線(單相，一根L，一根N)，而且不設(shè)專門接地線時(shí)，受試設(shè)備就不能在試驗(yàn)時(shí)單獨(dú)再拉一根接地線。同樣，受試設(shè)備如果通過(guò)三芯電源線進(jìn)線(單相，一根L，一根N，及一根電氣接地線)，未設(shè)專門接地線時(shí)，則此受試設(shè)備也不允許另外再設(shè)接地線來(lái)接地，而且受試設(shè)備的這根電氣接地線還必須經(jīng)受抗擾度試驗(yàn)。

4.受試設(shè)備與試驗(yàn)儀器之間的相對(duì)距離以及電源連線的長(zhǎng)度都控制在1m，電源線的離地高度控制在0.1m，如有可能，*好用一個(gè)木制支架來(lái)擺放電源線。當(dāng)受試設(shè)備的電源線為不可拆卸，而且長(zhǎng)度超過(guò)1m時(shí)，那么超長(zhǎng)部分就應(yīng)當(dāng)挽成個(gè)直徑為0.4m的扁平線圈，并行地放置在離參考接地板上方0.1m處。受試設(shè)備與試驗(yàn)儀器之間的距離仍控制為1m。標(biāo)準(zhǔn)還規(guī)定，上述電源線不應(yīng)采用屏蔽線，但電源線的絕緣應(yīng)當(dāng)良好。

5.試驗(yàn)應(yīng)在試驗(yàn)室中央進(jìn)行，除了位于受試設(shè)備、試驗(yàn)儀器下方的參考接地板以外，它們與其他所有導(dǎo)電性結(jié)構(gòu)(例如屏蔽室的墻壁和實(shí)驗(yàn)室里的其他有金屬結(jié)構(gòu)的試驗(yàn)儀器和設(shè)備)之間的*小距離為0.5m。

6.當(dāng)使用耦合夾做被試系統(tǒng)的抗擾度試驗(yàn)時(shí)，耦合夾應(yīng)放置在參考接地板上，耦合夾到參考接地板的邊緣尺寸的*小距離為0.1m。同樣，除了位于耦合夾下方的參考接地板以外，耦合夾相對(duì)所有其他導(dǎo)電性結(jié)構(gòu)之間的*小距離是0.5m。如果試驗(yàn)是針對(duì)系統(tǒng)中一臺(tái)設(shè)備(如EUT1)的抗擾度性能測(cè)試來(lái)說(shuō)時(shí)，則耦合夾與EUT1的距離關(guān)系保持不變，而將耦合夾相對(duì)EUT2的距離增至5m以上(標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)為較長(zhǎng)的導(dǎo)線足夠使線路上的脈沖群信號(hào)損耗殆盡)。耦合夾也可由1米長(zhǎng)的鋁箔包裹受試電纜代替，前提是它可以提供和耦合夾一樣的等效電容(100pF)。如果現(xiàn)場(chǎng)條件不允許放置1m長(zhǎng)的鋁箔也可以適當(dāng)縮短長(zhǎng)度，但仍要保證等效耦合電容。也可以將發(fā)生器的輸出通過(guò)100pF的高壓陶瓷電容直接加到受試電纜的芯線或是外皮。

7．在電源線上的試驗(yàn)通過(guò)耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)以共模方式進(jìn)行，在每一根線(包括設(shè)備的電氣接地線)對(duì)地(對(duì)參考接地板)施加試驗(yàn)電壓。要求每一根線在一種試驗(yàn)電壓極性下做三次，每次一分鐘，中間相隔一分鐘。在一種極性做完后，換做另一個(gè)極性。一根線做完后，換做另一根線。當(dāng)然也可以把脈沖同時(shí)注入兩根線，甚至幾根線。 四．試驗(yàn)等級(jí) 試驗(yàn)等級(jí)所代表的典型工作環(huán)境如下：1級(jí)，具有良好保護(hù)的環(huán)境。計(jì)算機(jī)機(jī)房可代表此類環(huán)境；2級(jí)，受保護(hù)的環(huán)境。工廠和發(fā)電廠的控制室可代表此類環(huán)境；3級(jí)，典型工業(yè)環(huán)境。發(fā)電廠和戶外高壓變電站的繼電器房可代表此類環(huán)境；4級(jí)，嚴(yán)酷的工業(yè)環(huán)境。為采取特別安裝措施的電站或工作電壓高達(dá)50萬(wàn)伏的開(kāi)關(guān)設(shè)備可代表此類環(huán)境；X級(jí)，由廠家和客戶協(xié)商決定。

電快速脈沖干擾成分：傳導(dǎo)干擾和輻射干擾

由于脈沖群的單個(gè)脈沖波形前沿tr達(dá)到5ns，脈寬達(dá)到50ns，這就注定了脈沖群干擾具有極其豐富的諧波成分。幅度較大的諧波頻率至少可以達(dá)到1/πtr，亦即可以達(dá)到64MHz左右，相應(yīng)的信號(hào)波長(zhǎng)為5m。對(duì)于一根載有60MHz以上頻率的電源線來(lái)說(shuō)，如果長(zhǎng)度有1m，由于導(dǎo)線長(zhǎng)度已經(jīng)可以和信號(hào)的波長(zhǎng)可比，不能再以普通傳輸線來(lái)考慮，信號(hào)在線上的傳輸過(guò)程中，部分依然可以通過(guò)傳輸線進(jìn)入受試設(shè)備(傳導(dǎo)發(fā)射)；部分要從線上逸出，成為輻射信號(hào)進(jìn)入受試設(shè)備(輻射發(fā)射)。因此，受試設(shè)備受到的干擾實(shí)際上是傳導(dǎo)與輻射的結(jié)合。

很明顯，傳導(dǎo)和輻射的比例將和電源線的長(zhǎng)度有關(guān)，線路越短，傳導(dǎo)成分越多，而輻射比例越?。环粗?，輻射比例就大。這正是同等條件下，為什么金屬外殼的設(shè)備要比非金屬外殼設(shè)備更容易通過(guò)測(cè)試的道理，因?yàn)榻饘偻鈿さ脑O(shè)備抗輻射干擾能力較強(qiáng)。并且輻射的強(qiáng)弱還和電源線與參考接地板之間的相對(duì)距離有關(guān)(它反映了受試設(shè)備與接地板之間的分布電容)，EUT離參考接地板越近，則分布電容就越大(容抗越小)，干擾信號(hào)越不容易以輻射方式逸出；反之亦反。由此可見(jiàn)，試驗(yàn)用的電源線長(zhǎng)短，電源線離參考接地板的高度，乃至電源線與受試設(shè)備的相對(duì)位置，都可成為影響試驗(yàn)結(jié)果的因素。

因此，為了保證試驗(yàn)結(jié)果的可重復(fù)性和可比性，注意試驗(yàn)配置的一致性就變得十分重要。信號(hào)線和電源線在一起的直流設(shè)備的測(cè)試)對(duì)于像帶有USB數(shù)據(jù)線并通過(guò)USB線供電的一類信號(hào)線和電源線在一起的設(shè)備，如移動(dòng)硬盤、網(wǎng)絡(luò)攝像頭等，我們要采用電容耦合夾的干擾注入方式。因?yàn)槿绻覀冞x用耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)，那么去耦網(wǎng)絡(luò)中的去耦電容(0.1uF左右)，以及去耦電感(＞100μH)，會(huì)使工作信號(hào)發(fā)生嚴(yán)重失真，特別是對(duì)于USB2.0等高速端口，影響更為嚴(yán)重。從而讓實(shí)驗(yàn)不能如實(shí)反映設(shè)備的真實(shí)狀態(tài)。但如果是單獨(dú)的直流電源線(不含信號(hào)線)，我們?nèi)耘f采用耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)來(lái)施加干擾。