本文針對手機電磁兼容測試中經(jīng)常出現(xiàn)的問題，包括靜電放電抗擾度試驗、電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗、輻射騷擾及傳導騷擾性能測試中經(jīng)常發(fā)現(xiàn)的問題進行了分析，并提出了相應的改善手機電磁兼容性能的建議。

1 靜電放電抗擾度試驗
1.1靜電放電抗擾度試驗常見問題
靜電放電抗擾度測試中出現(xiàn)的問題主要表現(xiàn)在以下幾個方面。
(1)手機通話中斷。
(2)靜電放電導致手機部分功能失效，但靜電放電過程結(jié)束后或者重新啟動手機之后失效的功能可以恢復。這些現(xiàn)象可能為：
      屏幕顯示異常，如屏幕顯示呈白色、出現(xiàn)條紋、顯示出現(xiàn)亂碼、顯示模糊等等;
      通話效果出現(xiàn)問題，如嘯叫聲或者聲音消失;
      按鍵功能或者觸摸屏功能喪失;
      軟件出現(xiàn)誤告警，如在并沒有出現(xiàn)插拔充電器的情況下頻繁提示“充電已連接、充電器已移除”。
(3)手機自動關機或者重新啟動現(xiàn)象。這個問題既可能發(fā)生在通話過程中，也可能發(fā)生在待機過程中。
(4)靜電放電導致手機失效或損壞。
        由于部分器件損壞，手機的一些功能在重新啟動后仍無法恢復，如攝像頭功能;
         自動關機后無法再次開機的情況;
         與充電器相連接的情況下進行測試時，充電器也可能出現(xiàn)失效、損壞甚至爆炸等問題。

1.2靜電放電問題的具體分析
(1)通話中斷：造成通話中斷的主要原因是靜電放電對手機內(nèi)部的射頻電路和/或基帶電路造成影響，造成了通信信噪比的下降，信號同步出現(xiàn)問題，從而造成通話中斷。

    結(jié)構(gòu)設計不合理也可能導致通話中斷。靜電放電試驗中需要使用較大面積的金屬材質(zhì)的水平耦合板，手機與水平耦合板之間僅放置一個厚度為0.5 mm的絕緣墊。當天線或者大面積的金屬部件距離這個水平耦合板距離過近時，可能產(chǎn)生相互耦合，導致移動電話機實際能達到的靈敏度大大下降，進行靜電試驗時通話更容易中斷，嚴重時即使不施加靜電干擾移動電話機都無法保持通話。
(2)自動關機或重啟：基帶電路的復位電路受到靜電的干擾導致手機誤關機或重啟。
(3)手機失效或損壞：靜電放電過程中高電壓和高電流導致器件的熱失效或者絕緣擊穿。也可能受到靜電放電過程中的強電磁場影響導致器件暫時失效。
(4)軟件故障：靜電干擾信號被當作有用信號被處理，導致操作系統(tǒng)誤響應。

1.3靜電放電問題的改進建議
(1)在設計方案上考慮靜電放電問題
       盡量選擇靜電敏感度等級高的器件;
      器件與靜電源隔離;
      減少回路面積(面積越大，所包含的場流量越大，其感應電流越大)。具體的措施可能包括：走線越短越好;電源與地越接近越好;存  在多組電源和地時，以格子方式連接;太長的信號線或電源線必須與地線交錯布置;信號線越靠近地線越好;所有的組件越近越好;同一特性器件越近越好;
     接地平面設計：盡量在PCB上使用完整的地平面;PCB接地面積越大越好;不要有大的缺口;
     PCB的接地線需要低阻抗且要有良好的隔離;
     電源、地布局在板中間比在四周好;
     在電源和地之間放置高頻旁路電容;
     保護靜電敏感的元器件。
(2)出現(xiàn)靜電問題后的整改建議針對上述靜電放電問題，需要采取以下步驟進行整改。
a)嘗試直接放電和間接放電、空氣放電和接觸放電，確認耦合路徑;
b)從不同方向放電，觀察現(xiàn)象有何不同，確定所有的放電點和放電路徑;
c)從低到高，在不同電壓下進行試驗，確定手機在哪個電壓范圍內(nèi)出現(xiàn)不合格現(xiàn)象;
d)多試驗幾臺樣機，分析共性，確認失效原因;
e)根據(jù)耦合路徑、不合格現(xiàn)象、放電路徑，判斷相關的敏感器件;
f)針對敏感器件制訂解決方案;
g)通過試驗驗證、修正解決方案。整改中具體可采用以下措施。
      對于機殼縫隙、按鍵、FPCB的問題可用介質(zhì)隔離的方式來處理;
      對于攝像頭、麥克風、聽筒等問題可以通過介質(zhì)隔離、加強接地等方式來處理;
      具有屏蔽殼的芯片可以通過加強屏蔽效果、屏蔽殼加強接地的方式來處理;
       對于接口電路、關鍵芯片的引腳，要通過使用保護器件(如TVS管，ESD防護器件)來加以保護;·對于軟件的故障，可以通過增加一些邏輯判斷來正確檢測和處理告警信息的方式來改善。 

2 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗

2.1電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗概述
       電快速瞬變脈沖群產(chǎn)生的原理如下：當電感性負載(如繼電器、接觸器等)在斷開時，由于開關觸點間隙的絕緣擊穿或觸點彈跳等原因，在斷開處產(chǎn)生的瞬態(tài)騷擾。當電感性負載多次重復開關，則脈沖群又會以相應的時間間隙多次重復出現(xiàn)。這種瞬態(tài)騷擾能量較小，一般不會引起設備的損壞，但由于其頻譜分布較寬，所以會對移動電話機的可靠工作產(chǎn)生影響。

       該試驗是一種將由許多快速瞬變脈沖組成的脈沖群耦合到移動電話機的電源端口的試驗。試驗脈沖的特點是：瞬變脈沖上升時間短、重復出現(xiàn)、能量低。該試驗的目的就是為了檢驗手機在遭受這類暫態(tài)騷擾影響時的性能。一般認為電快速瞬變脈沖群之所以會造成手機的誤動作，是因為脈沖群對線路中半導體結(jié)電容充電，當結(jié)電容上的能量累積到一定程度，便會引起手機的誤操作。具體表現(xiàn)為在測試過程中移動電話機通信中斷、死機、軟件告警、控制及存儲功能喪失等。

2.2電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗常見問題分析
       電快速瞬變脈沖波形通過充電器直接傳導進手機，導致主板電路上有過大的噪聲電壓。當單獨對火線或零線注入時，盡管是采取的對地的共模方式注入，但在火線和零線之間存在差模干擾，這種差模電壓會出現(xiàn)在充電器的直流輸出端。當同時對火線和零線注入時，存在著共模干擾，但對充電器的輸出影響并不大。造成手機在測試過程中出現(xiàn)問題的原因是復雜的，具體表現(xiàn)為以下幾方面。

       前期設計時未考慮電快速瞬變脈沖群抑制功能，沒有添加相關的濾波元器件，PCB設計綜合布線時也沒有注意線纜的隔離，主板接地設計也不符合規(guī)范，另外關鍵元器件的也沒有采取屏蔽保護措施等;

        生產(chǎn)廠在元器件供應商的選擇上沒有選用性能可靠的關鍵器件，導致測試過程中器件老化或者器件失效，從而容易受到電快速瞬變脈沖的干擾;

        在整機生產(chǎn)組裝過程中，加工工藝及組裝水平出現(xiàn)的問題可能會導致產(chǎn)品一致性不好，個別送檢手機存在質(zhì)量問題;

        檢測過程中由于其他測試項出現(xiàn)問題導致整改，可能由于整改方案的選擇會影響到電快速瞬變脈沖群測試不合格。

2.3電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗相關問題的改進建議
針對電快速脈沖群干擾試驗出現(xiàn)的問題，主要可以采取濾波及吸收的辦法來實現(xiàn)對電快速瞬變脈沖的抑制。

(1)在手機設計初期就應重點考慮抑制電快速瞬變脈沖群干擾設計。

        在PCB層電源輸入位置要做好濾波，通常采用的是大小電容組合，根據(jù)實際情況可以酌情再添加**磁珠來濾除高頻信號，盡量采用表面封裝;

盡量減小PCB的地線公共阻抗值;

PCB布局盡量使干擾源遠離敏感電路;

PCB的各類走線要盡量短;

減小環(huán)路面積;

        在綜合布線時要注意強弱電的布線隔離、信號線與功率線的隔離。綜合布線是系統(tǒng)很重要的一個設計組成部分，一個糟糕的綜合布線格局很可能斷送一個設計精良的PCB的穩(wěn)定性;

       關鍵敏感芯片需要屏蔽;

       軟件上應正確檢測和處理告警信息，及時恢復產(chǎn)品的狀態(tài)。

(2)元器件的選擇上應使用質(zhì)量可靠的芯片，*好做過芯片級的電磁兼容仿真試驗，質(zhì)量可靠的充電器、數(shù)據(jù)線及電池的選用可提升對電快速瞬變脈沖信號的抑制能力;

(3)廠家在組裝生產(chǎn)環(huán)節(jié)中應嚴把質(zhì)量關，做好生產(chǎn)工藝流程控制，盡量保證產(chǎn)品質(zhì)量的一致性，減少因個別手機質(zhì)量問題帶來的測試不合格現(xiàn)象;

(4)EFT測試過程中如出現(xiàn)問題，可采用在充電器增加磁環(huán)或者電快速瞬變脈沖群濾波器的方法進行整改，選用磁珠的內(nèi)徑越小、外徑越大、長度越長越好。采用加TVS管的整改方法作用有限;

(5)根據(jù)*新GB/T 17626.4-2008標準要求，重復頻率將增加100 kHz選項，將會比5 kHz更為嚴酷，廠家應及早重視進行相關的電快速瞬變脈沖群測試防護工作。